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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 60749:2000-02
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996); Deutsche Fassung EN 60749:1999
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996); German version EN 60749:1999
- Ausgabedatum
- 2000-02
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 30
- Ausgabedatum
- 2000-02
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 30
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