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Norm [AKTUELL]
DIN EN 60749-36:2003-12
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Gleichmäßiges Beschleunigen (IEC 60749-36:2003); Deutsche Fassung EN 60749-36:2003
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003); German version EN 60749-36:2003
- Ausgabedatum
- 2003-12
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 7
- Ausgabedatum
- 2003-12
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 7
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/9515615
Produktinformationen auf dieser Seite:
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ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9515615
Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749:2002-09 .
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: - vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 2, Abschnitt 5, enthaltenen Prüfung. Dies betrifft sowohl das Verfahren als auch die Prüfdurchführung; insbesondere die Art der elektrischen Beanspruchung wurde neu festgelegt.
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