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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 60749-9:2003-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung (IEC 60749-9:2002); Deutsche Fassung EN 60749-9:2002
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002
- Ausgabedatum
- 2003-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 8
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- Ausgabedatum
- 2003-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 8
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Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749:2002-09 .
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Änderungsvermerk
- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 4, Abschnitt 2, enthaltenen Prüfung, so dass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.
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