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Norm [AKTUELL]

DIN EN 60749-11:2003-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren (IEC 60749-11:2002); Deutsche Fassung EN 60749-11:2002

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002
Ausgabedatum
2003-04
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
10
Hinweis
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Ausgabedatum
2003-04
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
10
Hinweis
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DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9449802

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ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9449802
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749:2002-09 .

Änderungsvermerk

-vollstandige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 1.2, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentliche werde kann.

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