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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 60749-10:2003-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken (IEC 60749-10:2002); Deutsche Fassung EN 60749-10:2002
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002); German version EN 60749-10:2002
- Ausgabedatum
- 2003-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 7
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- Ausgabedatum
- 2003-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 7
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/9451330
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ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9451330
Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749:2002-09 .
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN IEC 60749-10:2023-12 .
Änderungsvermerk
- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 2, Abschnitt 4, enthaltenen Prüfung, so dass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.
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