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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60749-3:2003-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002); Deutsche Fassung EN 60749-3:2002

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002
Ausgabedatum
2003-04
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
5
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Deutsch
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Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 60749-3:2018-01 .

Änderungsvermerk

- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 1, Abschnitt 5, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.

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