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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 60749:2001-09
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996 + A1:2000); Deutsche Fassung EN 60749:1999 + A1:2000
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000); German version EN 60749:1999 + A1:2000
- Ausgabedatum
- 2001-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 61
- Ausgabedatum
- 2001-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 61
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