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Norm [AKTUELL]

DIN EN 60749-31:2003-12

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 31: Entflammbarkeit von Bauelementen in Kunststoffgehäusen (Selbstentzündung) (IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003); Deutsche Fassung EN 60749-31:2003

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic encapsulated devices (internally induced) (IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-31:2003
Ausgabedatum
2003-12
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
5

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Ausgabedatum
2003-12
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
5
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9517370

Produktinformationen auf dieser Seite:

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ICS
13.220.40, 31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9517370
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749:2002-09 .

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: - Ergänzung der Festlegungen aus Kapitel 4, Abschnitt 1.1 von DIN EN 60749:2002-09 um Abschnitt 1 "Anwendungsbereich und Zweck" sowie die Überschriften zu den Abschnitten 2 und 3 und - Überarbeitung der Nummerierung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.

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