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Norm [AKTUELL] 1982-09

DIN 5030-2:1982-09
Spektrale Strahlungsmessung; Strahler für spektrale Strahlungsmessungen; Auswahlkriterien

ab 34,60 EUR inkl. MwSt.

ab 32,34 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2021-09

DIN 5030-3:2021-09
Spektrale Strahlungsmessung - Spektrale Aussonderung - Begriffe und Kennzeichnungsmerkmale

Dieses Dokument definiert Begriffe zur Kennzeichnung von Geräten zur spektralen Aussonderung für Strahlungsmessungen im Spektralbereich von 100 nm bis 1 mm. Dieses Dokument wurde vom ...

ab 99,10 EUR inkl. MwSt.

ab 92,62 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2019-08

DIN 5030-5:2019-08
Spektrale Strahlungsmessung - Physikalische Empfänger für spektrale Strahlungsmessungen - Begriffe, Kenngrößen, Auswahlkriterien

Dieses Dokument wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-08-15 AA "Grundlagen der analytischen Atomspektroskopie" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP) erarbeitet.Dieses Dokument legt Begriffe und ...

ab 77,90 EUR inkl. MwSt.

ab 72,80 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2022-02

DIN 18213:2022-02
Optik und optische Instrumente - Feldverfahren zur Genauigkeitsuntersuchung geodätischer Instrumente - GNSS-Messgeräte

Dieses Dokument legt ein Feldprüfverfahren zur Anwendung bei der dreidimensionalen Koordinatenbestimmung unter Verwendung von GNSS-basierten Messverfahren fest. Das Feldprüfverfahren ist so ...

ab 99,10 EUR inkl. MwSt.

ab 92,62 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2016-12

DIN EN 62129-1:2016-12; VDE 0888-429-1:2016-12
Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 1: Optische Spektrumanalysatoren (IEC 62129-1:2016); Deutsche Fassung EN 62129-1:2016

Diese Internationale Norm liefert Verfahren für die Kalibrierung eines optischen Spektrumanalysators, der für Anwendung in der LWL-Kommunikation entwickelt wurde und mit dem die ...

110,24 EUR inkl. MwSt.

103,03 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2012-03

DIN EN 62129-2:2012-03
Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson-Interferometer-Einzelwellenlängen-Messgeräte (IEC 62129-2:2011); Deutsche Fassung EN 62129-2:2011

Dieser Teil von IEC 62129 gilt für Messgeräte zur Messung der Vakuumwellenlänge oder der optischen Frequenz, die von Quellen ausgesendet wird, die typisch für Industrieprodukte der ...

ab 146,40 EUR inkl. MwSt.

ab 136,82 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2020-04

DIN EN IEC 62129-3:2020-04; VDE 0888-429-3:2020-04
Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 3: Optisches Frequenzmessgerät mit internem Bezug auf einen Frequenzkamm (IEC 62129-3:2019); Deutsche Fassung EN IEC 62129-3:2019

Für die Realisierung von LWL-Systemen ist es wesentlich, dass optische Kanäle im Bereich der optischen Frequenz und nicht im Bereich der Wellenlänge festgelegt werden. Das Frequenzmessgerät, das ...

63,27 EUR inkl. MwSt.

59,13 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2016-04

DIN ISO 12858-1:2016-04
Optik und optische Instrumente - Zubehör für geodätische Instrumente - Teil 1: Präzisions-Nivellierlatten (Invarlatten) (ISO 12858-1:2014)

DIN ISO 12858-1 legt die wichtigsten Anforderungen an Präzisions-Nivellierlatten fest, die in der Geodäsie und der Industrie in Kombination mit entweder einem optischen Nivellier mit ...

ab 42,10 EUR inkl. MwSt.

ab 39,35 EUR exkl. MwSt.

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Norm-Entwurf 2024-11

DIN ISO 12858-2:2024-11 - Entwurf
Optik und optische Instrumente - Zusatzausrüstungen für geodätische Instrumente - Teil 2: Stative (ISO 12858-2:2020); Text Deutsch und Englisch

Dieses Dokument legt die wichtigsten Anforderungen an Teleskopstative für Vermessungsinstrumente und die Verbindung zwischen Instrument und Stativ fest. Die Anforderungen in diesem Teil von ISO ...

ab 77,90 EUR inkl. MwSt.

ab 72,80 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2018-09

DIN ISO 12858-2:2018-09
Optik und optische Instrumente - Zusatzausrüstungen für geodätische Instrumente - Teil 2: Stative (ISO 12858-2:1999 + Amd.1:2013)

Dieser Teil von ISO 12858 legt die wichtigsten Anforderungen an Teleskopstative für Vermessungsinstrumente und die Verbindung zwischen Instrument und Stativ fest. Die Anforderungen in diesem Teil ...

ab 70,50 EUR inkl. MwSt.

ab 65,89 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2019-10

DIN ISO 12858-3:2019-10
Optik und optische Instrumente - Zusatzausrüstungen für geodätische Instrumente - Teil 3: Dreifüße (ISO 12858-3:2005)

Dieser Teil von ISO 12858 legt die wichtigsten Anforderungen an Instrumentenfüße fest, die in der Geodäsie zur Verbindung des Instrumentenkörpers mit seiner Basis verwendet werden. Die ...

ab 77,90 EUR inkl. MwSt.

ab 72,80 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2020-09

DIN ISO 16331-1:2020-09
Optik und optische Instrumente - Laborprüfverfahren geodätischer Instrumente - Teil 1: Leistungsbeschreibung von Handheld-Laserdistanzmessgeräten (ISO 16331-1:2017)

Seit 1993 entwickeln mehrere Unternehmen Handheld-Laserdistanzmessgeräte und bringen sie auf den Markt. Mit der steigenden Anzahl verschiedener Hersteller wurde offensichtlich, dass eine Norm zur ...

ab 129,30 EUR inkl. MwSt.

ab 120,84 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2017-09

DIN ISO 17123-1:2017-09
Optik und optische Instrumente - Feldprüfverfahren geodätischer Instrumente - Teil 1: Theorie (ISO 17123-1:2014)

Dieser Teil 1 der ISO 17123 enthält eine Anleitung mit dem Ziel der Bereitstellung allgemeiner Regeln zur Bewertung und Angabe der Messunsicherheit für die Anwendung bei der Spezifikation der ...

ab 123,40 EUR inkl. MwSt.

ab 115,33 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2023-12

DIN ISO 17123-2:2023-12
Optik und optische Instrumente - Feldprüfverfahren geodätischer Instrumente - Teil 2: Nivelliere (ISO 17123-2:2001)

Dieser Teil von der Normenreihe ISO 17123 legt Feldprüfverfahren fest, die bei der Bestimmung und Beurteilung der Präzision von Nivellieren (Libellennivelliere, Kompensatornivelliere, digitale ...

ab 77,90 EUR inkl. MwSt.

ab 72,80 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2019-01

DIN ISO 17123-3:2019-01
Optik und optische Instrumente - Feldprüfverfahren geodätischer Instrumente - Teil 3: Theodolite (ISO 17123-3:2001)

Dieser Teil von ISO 17123 legt Feldverfahren fest, die bei der Bestimmung und Beurteilung der Präzision (Wiederholpräzision) von Theodoliten und deren Zusatzausrüstungen in der Bau- und ...

ab 99,10 EUR inkl. MwSt.

ab 92,62 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2017-09

DIN ISO 17123-4:2017-09
Optik und optische Instrumente - Feldprüfverfahren geodätischer Instrumente - Teil 4: Elektrooptische Distanzmesser (EDM-Messungen mit Reflektoren) (ISO 17123-4:2012)

Dieser Teil von ISO 17123 legt die Feldverfahren zur Anwendung bei der Bestimmung und Auswertung der Präzision (Wiederholpräzision) von elektrooptischen Distanzmessgeräten (EDM) und deren Zubehör ...

ab 99,10 EUR inkl. MwSt.

ab 92,62 EUR exkl. MwSt.

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Norm [AKTUELL] 2022-06

DIN ISO 17123-5:2022-06
Optik und optische Instrumente - Feldverfahren zur Untersuchung geodätischer Instrumente - Teil 5: Totalstationen (ISO 17123-5:2018)

Dieses Dokument legt die Feldverfahren zur Anwendung bei der Bestimmung und Auswertung der Präzision (Wiederholpräzision) von Koordinatenmessung von Totalstationen und deren Zusatzeinrichtungen ...

ab 106,30 EUR inkl. MwSt.

ab 99,35 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2020-04

VDI/VDE 2660 Blatt 2:2020-04
Technische Temperaturmessung - Optischer Temperaturfühler basierend auf Faser-Bragg-Gittern - Empfehlungen zur Durchführung von Temperaturmessungen und Angabe der Messunsicherheit

Die Richtlinie bezieht sich auf optische Temperaturfühler, deren Temperatursensor ein Faser-Bragg-Gitter (FBG) oder ein Faser-Bragg-Gitter-Array ist. Die FBG werden durch übliche ...

ab 172,50 EUR inkl. MwSt.

ab 161,21 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2023-01

VDI/VDE 5565 Blatt 1:2023-01
Optische Kohärenztomografie (OCT) - Verfahrensbeschreibungen

Die optische Kohärenztomografie (OCT) ist ein auf der Interferometrie basierendes optisches Messverfahren, mit der tomographische Schnittbilder von transparenten und semitransparenten Materialien ...

ab 76,80 EUR inkl. MwSt.

ab 71,78 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2018-09

VDI/VDE 5575 Blatt 1:2018-09
Röntgenoptische Systeme - Begriffe

Diese Richtlinie definiert Begriffe und Größen zur Kennzeichnung von optischen Systemen für den Spektralbereich unterhalb von 100 nm. Sie bietet die Möglichkeit, Funktionsparameter von ...

ab 67,60 EUR inkl. MwSt.

ab 63,18 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2019-12

VDI/VDE 5575 Blatt 2:2019-12
Röntgenoptische Systeme - Messverfahren; Messaufbau und Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme

Die Richtlinie beschreibt den Messaufbau und die Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme. Es werden Verfahren zur Charakterisierung der geometrischen Eigenschaften von Röntgenstrahlung und ...

ab 98,10 EUR inkl. MwSt.

ab 91,68 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2019-07

VDI/VDE 5575 Blatt 3:2019-07
Röntgenoptische Systeme - Röntgenkapillaren

Diese Richtlinie bezieht sich auf röntgenoptische Systeme, die auf der Verwendung von Röntgenkapillaren zur Beeinflussung der Strahlgeometrie, insbesondere zur Fokussierung, von Röntgenstrahlung ...

ab 58,00 EUR inkl. MwSt.

ab 54,21 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2018-09

VDI/VDE 5575 Blatt 4:2018-09
Röntgenoptische Systeme - Röntgenspiegel und Röntgenspiegelsysteme - Totalreflexions- und Multischichtspiegel

Diese Richtlinie bezieht sich auf reflektive Röntgenoptiken, die auf der Nutzung der Totalreflexion sowie auf Multischichtsystemen auf Basis der Braggreflexion an inneren Grenzflächen zur ...

ab 76,80 EUR inkl. MwSt.

ab 71,78 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2018-09

VDI/VDE 5575 Blatt 5:2018-09
Röntgenoptische Systeme - Transmissionszonenplatten

Diese Richtlinie beschreibt die Nutzung transmittierender Fresnel-Zonenplatten als Linsen für Röntgenstrahlung. Die physikalischen Prinzipien werden kurz dargestellt. Die für die Röntgenoptik ...

ab 58,00 EUR inkl. MwSt.

ab 54,21 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2018-09

VDI/VDE 5575 Blatt 6:2018-09
Röntgenoptische Systeme - Reflexionszonenplatten

Reflexionszonenplatten haben spektral selektive und zugleich fokussierende und dispersive Eigenschaften. Sie werden unter anderem in der Röntgenmikroskopie und der Röntgenspektroskopie eingesetzt.

ab 41,90 EUR inkl. MwSt.

ab 39,16 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2019-12

VDI/VDE 5575 Blatt 7:2019-12
Röntgenoptische Systeme - Refraktive Röntgenlinsen

Die Richtlinie beschreibt Aufbau und Nutzung von Röntgenlinsen, die auf der Brechung von Röntgenstrahlen beruhen. Da - anders als im optischen Bereich - der Brechungsindex nur wenig von eins ...

ab 58,00 EUR inkl. MwSt.

ab 54,21 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2019-07

VDI/VDE 5575 Blatt 8:2019-07
Röntgenoptische Systeme - Monochromatorkristalle

Diese Richtlinie bezieht sich auf röntgenoptische Systeme, die auf der Verwendung von Kristallen zur Beeinflussung vorrangig der spektralen Zusammensetzung von Röntgenstrahlung beruhen. Die ...

ab 67,60 EUR inkl. MwSt.

ab 63,18 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2019-07

VDI/VDE 5575 Blatt 9:2019-07
Röntgenoptische Systeme - Röntgenfilter

Oft werden Röntgenfilter für die Unterdrückung von niederenergetischen Photonen eingesetzt, im weichen Röntgenbereich aber auch zur Unterdrückung von höheren Beugungsordnungen. Manche ...

ab 41,90 EUR inkl. MwSt.

ab 39,16 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2019-12

VDI/VDE 5575 Blatt 10:2019-12
Röntgenoptische Systeme - Beugungsgitter

Die Richtlinie beschreibt Beugungsgitter für die spektrale Zerlegung von Röntgenlicht. Die Gittergleichung, die Dispersion und die Winkelvergrößerung werden als physikalische Grundlagen ...

ab 67,60 EUR inkl. MwSt.

ab 63,18 EUR exkl. MwSt.

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Technische Regel [AKTUELL] 2018-03

VDI/VDE 5590 Blatt 1:2018-03
Terahertzsysteme - Begriffe

Der Frequenzbereich der Terahertzwellen liegt im elektromagnetischen Spektrum zwischen 0,1 THz bis 10 THz und wird auch Ferninfrarot genannt. Durch die Entwicklungen der Laser- und der ...

ab 67,60 EUR inkl. MwSt.

ab 63,18 EUR exkl. MwSt.

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