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Technische Regel [AKTUELL]
VDI/VDE 5575 Blatt 2:2019-12
Röntgenoptische Systeme - Messverfahren; Messaufbau und Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme
- Englischer Titel
- X-ray optical systems - Measurement methods; Measurement set-up and methods for the evaluation of X-ray optical systems
- Ausgabedatum
- 2019-12
- Originalsprachen
- Deutsch, Englisch
- Seiten
- 31
- Ausgabedatum
- 2019-12
- Originalsprachen
- Deutsch, Englisch
- Seiten
- 31
Produktinformationen auf dieser Seite:
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Kurzreferat
Die Richtlinie beschreibt den Messaufbau und die Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme. Es werden Verfahren zur Charakterisierung der geometrischen Eigenschaften von Röntgenstrahlung und zur spektralen Analyse vorgestellt. Koordinatensysteme zur eindeutigen Beschreibung des Messaufbaus werden definiert. Geeignete Positionier- und Detektorsysteme für die unterschiedlichen Messaufgaben werden aufgeführt. Es wird eine Übersicht über gebräuchliche Röntgenquellen mit den für die Vermessung relevanten typischen Eigenschaften gegeben.
Inhaltsverzeichnis
ICS
17.180.30
Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt VDI/VDE 5575 Blatt 2:2015-06 .
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