SN EN IEC 60749-30:2020-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Ausgabedatum: 2020-09
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 15

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