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Norm [AKTUELL]

SN EN 62417:2010-05

Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid- Halbleiter (MOSFET)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
Ausgabedatum
2010-05
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
7

ab 25,80 EUR inkl. MwSt.

ab 24,11 EUR exkl. MwSt.

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2010-05
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Deutsch
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7

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