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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-40:2011-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
Ausgabedatum
2011-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
21

ab 25,80 EUR inkl. MwSt.

ab 24,11 EUR exkl. MwSt.

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2011-09
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Deutsch
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