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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-33:2004-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Ausgabedatum
2004-04
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
9

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