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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-29:2011-08

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
Ausgabedatum
2011-08
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
25

ab 25,80 EUR inkl. MwSt.

ab 24,11 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2011-08
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Deutsch
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25

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