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SN EN 60749-23:2004-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 23: High temperature operating life
Ausgabedatum
2004-04
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
10

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