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Norm [NEU]

OVE EN IEC 60749-5:2024-10-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (( IEC 60749-5:2023) EN IEC 60749-5:2024) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (( IEC 60749-5:2023) EN IEC 60749-5:2024) (german version)
Ausgabedatum
2024-10-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
12

ab 33,06 EUR inkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2024-10-01
Originalsprachen
Deutsch
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12

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