Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen ((IEC 60749-41:2020) EN IEC 60749-41:2020) (deutsche Fassung)
Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices ((IEC 60749-41:2020) EN IEC 60749-41:2020) (german version)