Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices ((IEC 60749-41:2020) EN IEC 60749-41:2020) (german version)
German title
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen ((IEC 60749-41:2020) EN IEC 60749-41:2020) (deutsche Fassung)
Publication date
2023-04-01
Original language
German
Pages
28
Publication date
2023-04-01
Original language
German
Pages
28
Product information on this site:
Quick delivery via download or delivery service
Buy securely with a credit card or pay upon receipt of invoice