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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 62047-22:2015-06-01

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten (IEC 62047-22:2014) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 62047-22:2014) (german version)
Ausgabedatum
2015-06-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
12

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