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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-40:2012-04-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen (IEC 60749-40:2011) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011) (german version)
Ausgabedatum
2012-04-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
23

ab 143,60 EUR inkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2012-04-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
23

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