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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-38:2008-12-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008)
Ausgabedatum
2008-12-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
14

ab 86,54 EUR inkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2008-12-01
Originalsprachen
Deutsch
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14

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