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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-11:2003-10-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüvferfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel - Zweibäderverfahren (IEC 60749-11:2002 + Corr. 1:2003)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002 + Corr. 1:2003)
Ausgabedatum
2003-10-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
10

ab 76,61 EUR inkl. MwSt.

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2003-10-01
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Deutsch
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10

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