Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 11: Prüfverfahren für lineare thermische Ausdehnungskoeffizienten für freistehende Werstoffe der Mikrosystemtechnik
Englischer Titel
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems