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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-40:2012-02-01

NF EN 60749-40:2012-02-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: board level drop test method using a strain gauge
Ausgabedatum
2012-02-01
Originalsprachen
Französisch
Seiten
25

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