Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung
Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: accelerated moisture resistance - Unbiased HAST