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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-14:2004-01-01

NF EN 60749-14:2004-01-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 14: festigkeit der Bauelementeanschlüsse (Unversehrtheit der Anschlüsse)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: robustness of terminations (lead integrity)
Ausgabedatum
2004-01-01
Originalsprachen
Französisch
Seiten
16

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2004-01-01
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