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Norm [AKTUELL]
NF C96-017:2008-01-01
NF EN 62374:2008-01-01
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
- Ausgabedatum
- 2008-01-01
- Originalsprachen
- Französisch
- Seiten
- 25
- Ausgabedatum
- 2008-01-01
- Originalsprachen
- Französisch
- Seiten
- 25
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