Damit wir unsere Webseiten nutzerfreundlicher gestalten und fortlaufend verbessern, verwenden wir Cookies. Wenn Sie die Webseiten weiter nutzen, stimmen Sie dadurch der Verwendung von Cookies zu. Weitere Informationen erhalten Sie in unseren Datenschutzhinweisen und unserer Cookie-Richtlinie.

Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

DIN Media Kundenservice
Telefon +49 30 58885700-70

Norm [AKTUELL]

NF C96-017-1:2011-06-01

NF EN 62374-1:2011-06-01

Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

Englischer Titel
Semiconductor devices - Part 1: time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Ausgabedatum
2011-06-01
Originalsprachen
Französisch
Seiten
25

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 105,40 EUR inkl. MwSt.

ab 98,50 EUR exkl. MwSt.

Kauf- und Sprachoptionen

PDF-Download

  • 105,40 EUR

  • 105,40 EUR

Versand (3-5 Werktage)

  • 118,20 EUR

  • 118,20 EUR

Normen-Ticker 1
1

Erfahren Sie mehr über den Normen-Ticker

Ausgabedatum
2011-06-01
Originalsprachen
Französisch
Seiten
25

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...