Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektrometrie - Methode der Intensitätskalibrierung für mit Quarzkristallen monochromatisierte Al Kα XPS-Geräte
Englischer Titel
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Method of intensity calibration for quartz-crystal monochromated Al Kα XPS instruments
Ausgabedatum
2024-06
Originalsprachen
Englisch
Seiten
27
Ausgabedatum
2024-06
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Englisch
Seiten
27
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ICS
71.040.40
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