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Norm [AKTUELL]

ISO 23170:2022-06

Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilierung - Zerstörungsfreie Tiefenprofilierung nanoskaliger Schwermetalloxid-Dünnschichten auf Si-Substraten mit mittelenergetischer Ionenstreuung

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Depth profiling - Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
Ausgabedatum
2022-06
Originalsprachen
Englisch
Seiten
29

ab 166,60 EUR inkl. MwSt.

ab 155,70 EUR exkl. MwSt.

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2022-06
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Englisch
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29

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