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Norm [AKTUELL]

ISO 13095:2014-07

Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Verfahren zur in situ-Charakterisierung des Schaftprofils von AFM-Sonden zur Messung von Nanostrukturen

Englischer Titel
Surface Chemical Analysis - Atomic force microscopy - Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
Ausgabedatum
2014-07
Originalsprachen
Englisch
Seiten
25

ab 142,50 EUR inkl. MwSt.

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2014-07
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Englisch
Seiten
25

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