IEC 62951-1:2017-04

Halbleiterbauelemente - Flexible und dehnbare Halbleiterbauelemente - Teil 1: Biegeprüfverfahren für elektrisch leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten

Englischer Titel: Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates
Ausgabedatum: 2017-04
Originalsprachen: Englisch
Seiten: 15

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