IEC 60749-44:2016-07

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Ausgabedatum: 2016-07
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 41

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