IEC 60749-42:2014-08

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 42: Lagerung bei Wärme und Feuchte

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
Ausgabedatum: 2014-08
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 16

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