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IEC 60749-36:2003-02
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Gleichmäßiges Beschleunigen
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
- Ausgabedatum
- 2003-02
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 16
- Ausgabedatum
- 2003-02
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 16
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