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IEC 60749-28:2022-03
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
- Ausgabedatum
- 2022-03
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 98
- Ausgabedatum
- 2022-03
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 98
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