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IEC 60749-27:2006-07
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
- Ausgabedatum
- 2006-07
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 25
- Ausgabedatum
- 2006-07
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 25
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Dieser Artikel wurde geändert durch: IEC 60749-27 AMD 1:2012-09
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