BS EN IEC 60749-5:2024-02-06

Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung

Englischer Titel: Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test
Ausgabedatum: 2024-02-06
Originalsprachen: Englisch
Seiten: 14

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