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Norm-Entwurf

OVE EN IEC 60749-28:2021-01-01 - Entwurf

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level (IEC 47/2661/CDV) (englische Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 47/2661/CDV) (english version)
Ausgabedatum
2021-01-01
Originalsprachen
Englisch
Seiten
52

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