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Norm-Entwurf

OEVE/OENORM EN 60749-28:2013-04-15 - Entwurf

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Direct contact charged device model (DC-CDM) (IEC 47/2155/CDV)
Ausgabedatum
2013-04-15
Originalsprachen
Englisch
Seiten
24

ab 26,97 EUR inkl. MwSt.

ab 25,21 EUR exkl. MwSt.

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Ausgabedatum
2013-04-15
Originalsprachen
Englisch
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24

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