OEVE/OENORM EN 60749-28:2013-04-15 - Entwurf

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Direct contact charged device model (DC-CDM) (IEC 47/2155/CDV)
Ausgabedatum: 2013-04-15
Originalsprachen: Englisch
Seiten: 24

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Lade Empfehlungen...