Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
Vornorm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN CEN/TS 15605:2008-02
Kupfer und Kupferlegierungen - Optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppelter Plasmaanregung; Deutsche Fassung CEN/TS 15605:2007
- Englischer Titel
- Copper and copper alloys - Inductively coupled plasma optical emission spectrometry; German version CEN/TS 15605:2007
- Ausgabedatum
- 2008-02
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 49
- Verfahren
- Vornorm
- Ausgabedatum
- 2008-02
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 49
- Verfahren
- Vornorm
Produktinformationen auf dieser Seite:
Schnelle Zustellung per Download oder Versand
Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung
Diese Vornorm legt sieben Verfahren (A bis G) zur optischen Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppelter Plasmaanregung für die Analyse von Legierungselementen und Verunreinigungen in Kupfer und Kupferlegierungen fest, die als Gussstücke oder als plastisch oder nicht plastisch geformte Produkte vorliegen. Diese Verfahren sind anwendbar auf die in den Tabellen aufgelisteten Elemente innerhalb der angegebenen Zusammensetzungsbereiche.
Die festgelegten Bereiche für jedes Verfahren können ausgeweitet oder angepasst werden für die Analyse niedrigerer Massenanteile.
Das Verfahren ist im Folgenden kurz beschrieben:
- Lösen der Probe in einem Gemisch aus Salzsäure und Salpetersäure
- nach entsprechender Verdünnung, Zerstäuben in ein optisches Emissionsspektrometer mit induktiv gekoppelter Plasmaanregung und Messung der Intensität der emittierten Strahlung, einschließlich der des internen Referenzelementes.
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 15605:2010-12 .