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XP X21-015:2011-07-01

XP ISO/TS 24597:2011-07-01

Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Verfahren zur Ermittlung der Bildschärfe

Englischer Titel
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness
Ausgabedatum
2011-07-01
Originalsprachen
Französisch
Seiten
93

ab 157,80 EUR inkl. MwSt.

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2011-07-01
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93

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