UNE-EN IEC 60749-30:2020-11-01

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)
Ausgabedatum: 2020-11-01
Originalsprachen: Englisch
Seiten: 18

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