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Norm [AKTUELL]
UNE-EN 62047-14:2012-06-01
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (Endorsed by AENOR in June of 2012.)
- Ausgabedatum
- 2012-06-01
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 17
- Ausgabedatum
- 2012-06-01
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 17
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