UNE-EN 60749-27:2006-11-01

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
Ausgabedatum: 2006-11-01
Originalsprachen: Englisch
Seiten: 13

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