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Norm [AKTUELL]

SN EN IEC 60749-10:2022-06

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
Ausgabedatum
2022-06
Originalsprachen
Englisch
Seiten
2

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