SN EN 62374-1+CORR:2011-04

Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

Englischer Titel: Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Ausgabedatum: 2011-04
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 16

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