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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-35:2006-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Ausgabedatum
2006-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
19

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