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SN EN 60749-28:2017-06
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
- Ausgabedatum
-
2017-06
- Originalsprachen
-
Deutsch
- Seiten
- 46